Microscopio a Forza Atomica - AFM

La strumentazione 3D Asylum Research  è costituita da una unità base che comprende la "testa" del microscopio a forza atomica, lo scanner, il controller ed il sistema antivibrazione che assicura la stabilità della testa durante la scansione. Sono poi presenti e disponibili una serie di accessori per le diverse tecniche analitiche che possono essere implenetate sulla strumentazione.

Analisi topografica su sistemi chimici in fase solida, organici ed inorganici, esposti al'aria o presenti in soluzione. Possibilità di condurre le analisi in diverse modalità: "AC mode" e "Contact mode".

1. Ulteriori possibili analisi:
   Piezorisposta dei materiali (Piezoresponse Force Microscopy) in modalità "Single frequency" e "Dark" ( Dual Amplitude Resonance Traking)
2. Kelvin Probe Force Microscopy
3. Valutazione della costante piezoelettrica d33 propria dei materiali piezoelettrici

Scienza dei materiali: analisi su scala nanometrica della morfologia superficiale per sistemi massivi e film sottili.