Microscopio Elettronico a Trasmissione - TEM

FEI Tecnai 20 

(20kV-200kV regolabile in continua a step di 10 V su tutto il range).

Filamento LaB6. (È possibile utilizzare anche filamenti di Tungsteno (W) in casi di emergenza).

La lente obiettivo Twin.

Goniometro computerizzato per controllo di 5 assi ad altissime prestazioni, riproducibilità di posizionamento campione. Numero illimitato di memorizzazioni della posizione del campione.

Microanalisi a Dispersione di Energia (EDS) integrata.

Spettrometro EELS, per rivelazione analisi elementi leggeri.

Telecamera Digitale ad alta risoluzione (Gatan Orius), da 11 Mpixels.

Modulo integrato STEM HAADF (High Angle Annular dark field.

Microscopio completamente digitale dotato di lente obiettivo Twin, che permette un elevato grado di flessibilità per acquisire informazioni sul campione e risulta ideale per la ricostruzione 3D.

Il sistema STEM HAADF permette di ottenere informazioni relative alla massa atomica del campione e l’acquisizione di mappe spettroscopiche EDX e EELS secondo un orientamento  in linea o su un’ area ben definita.

La tecnica STEM genera immagini ad altro contrasto nel caso si utilizzino campioni di spessore molto elevato.

Permette l’analisi di elementi leggeri.

Software Low-Dose che permetta di condurre analisi di campioni estremamente sensibili al fascio elettronico, quali campioni biologici di spessore estremamente sottile, di polimeri di diversa natura e consistenza ed esami di campioni Cryo.

XPlore 3D è il sistema esclusivamente  dedicato all’acquisizione, allineamento e ricostruzione di tomogrammi (sia in modalita’ TEM che STEM), completamente integrato nel Microscopio, con  spostamento del campione lungo l’asse Z di almeno ±0.375 mm (totale 0.75 mm) incluso un  tilt del campione molto ampio,fino a ±80°, ideale per la ricostruzione 3D.

Realizza tomogrammi dopo la misurazione ed osservazione del campione in modalità piana.

Biologico e Chimico: realizzazione di misurazioni su retini di spessore variabile, senza utilizzo di sistemi di contrasto aggiuntivi.