Diffrattometro a Raggi X con sorgente ad anodo rotante - XRD

Diffrattometro a raggi X ad alta emissione ed ad alta risoluzione equipaggiato con generatore di Raggi X ad Anodo Rotante da 9 kW. Il diffrattometro è in grado di cambiare facilmente geometria da Bragg-Brentano a fascio parallelo, senza rimuovere l’ottica multilayer. Il sistema Rigaku permette misure in-plane in modo da poter analizzare strutture perpendicolari alla superficie di campion in forma di film sottile mantenendo il campione in posizione orizzontale.
 

Il sistema include l’ottica kα1 Johansson per misure in alta risoluzione utilizzando  un’unica riga caratteristica. Il diffrattometro offre la possibilità di eseguire misure su micro aree (ø 0,4mm), e misure SAXS (sono analizzabili strutture di 1-100nm).

La strumentazione è concepita per poter svolger analisi cristallografiche su materiali a differente grado di cristallinità in forma di campioni in polvere, film sottili e su campioni massivi. L'analisi dei dati ottenuti mediante l'analisi diffrattometrica può condurre alla risoluzione strutturale dei campioni analizzati localizzando gli atomi nella cella elementare oltre che alla vlutazione quantitativa dei parametri microstrutturali (deformazione reticolare, dimensione dei crestalliti e abbondanza relativa delle fasi nei sistemi multifasici).

Scienza dei materiali.

• Analisi biologiche (in LV ed ESEM)
• Analisi chimica dei materiali