AFM Microscopio a Forza Atomica
Descrizione
La strumentazione 3D Asylum Research è costituita da una unità base che comprende la "testa" del microscopio a forza atomica, lo scanner, il controller ed il sistema antivibrazione che assicura la stabilità della testa durante la scansione. Sono poi presenti e disponibili una serie di accessori per le diverse tecniche analitiche che possono essere implenetate sulla strumentazione.
Funzionalità
Analisi topografica su sistemi chimici in fase solida, organici ed inorganici, esposti al'aria o presenti in soluzione. Possibilità di condurre le analisi in diverse modalità: "AC mode" e "Contact mode".
Ulteriori possibili analisi:
1) Piezorisposta dei materiali (Piezoresponse Force Microscopy) in modalità "Single frequency" e "Dark" ( Dual Amplitude Resonance Traking);
2) Kelvin Probe Force Microscopy;
3) Valutazione della costante piezoelettrica d33 propria dei materiali piezoelettrici.
Possibili campi di applicazione
Scienza dei materiali: analisi su scala nanometrica della morfologia superficiale per sistemi massivi e film sottili.