XRD Diffrattometro a Raggi X con sorgente ad anodo rotante

Diffrattometro a Raggi X Assing S.p.A. RIGAKU

Descrizione

Diffrattometro a raggi X ad alta emissione ed ad alta risoluzione equipaggiato con generatore di Raggi X ad Anodo Rotante da 9 kW. Il diffrattometro è in grado di cambiare facilmente geometria da Bragg-Brentano a fascio parallelo, senza rimuovere l’ottica multilayer. Il sistema Rigaku permette misure in-plane in modo da poter analizzare strutture perpendicolari alla superficie di campion in forma di film sottile mantenendo il campione in posizione orizzontale.
Il sistema include l’ottica kα1 Johansson per misure in alta risoluzione utilizzando  un’unica riga caratteristica. Il diffrattometro offre la possibilità di eseguire misure su micro aree (ø 0,4mm), e misure SAXS (sono analizzabili strutture di 1-100nm).

Funzionalità

La strumentazione è concepita per poter svolger analisi cristallografiche su materiali a differente grado di cristallinità in forma di campioni in polvere, film sottili e su campioni massivi. L'analisi dei dati ottenuti mediante l'analisi diffrattometrica può condurre alla risoluzione strutturale dei campioni analizzati localizzando gli atomi nella cella elementare oltre che alla vlutazione quantitativa dei parametri microstrutturali (deformazione reticolare, dimensione dei crestalliti e abbondanza relativa delle fasi nei sistemi multifasici).

Possibili campi di applicazione

Scienza dei materiali.

Servizio - Prestazione

Analisi biologiche (in LV ed ESEM)
Analisi chimica dei materiali