SEM Microscopio Elettronico a Scansione

SEM - Microscopio Elettronico a Scansione

Descrizione

Microscopio Elettronico a Scansione (FEI Quanta 200) a pressione variabile e in alto vuoto (High-vacuum, Low-Vacuum e ESEM mode), permette l’analisi di materiali conduttivi, non-conduttivi e incompatibili per alto vuoto.
Microanalisi EDS - Genesis XM2i - Detector Apollo 10SSD LNfree
Camera Peltier

Funzionalità

Analisi in ambito biologico e di scienza dei materiali.
Tre modalità di imaging. La "modalità alto vuoto" (HV) è una modalità SEM convenzionale con la necessità di una preparazione convenzionale dei campioni. Nella "modalità basso vuoto" (LV) i campioni elettricamente non conduttivi possono essere osservati senza la necessità di uno strato conduttivo (ad esempio carbonio, oro ecc.). Nella "modalità ESEM" (ESEM) i campioni biologici “umidi” possono essere esaminati nel loro stato “naturale”, vitale.
Caratterizzazione di materiali con analisi della composizione chimica mediante microanalisi EDS;
Il display a quattro quadranti fornisce simultaneamente informazioni sulla superficie e distribuzione delle fasi attraverso l'imaging dal vivo di immagini di elettroni secondari (SE) e di elettroni retrodiffusi (BSE).

Possibili campi di applicazione

Biologico e Scienza dei materiali.

Servizio - Prestazione

Analisi biologiche (in LV ed ESEM)
Analisi chimica dei materiali